基于模拟选择开关和故障字典的数字芯片检测系统

作     者：华国环 董文锋 费敬敬 刘清惓 HUA Guo-Huan;DONG Wen-feng;Fei Jing-jing;LIU Qing-quan

作者机构：南京信息工程大学电子与信息工程学院江苏南京210044 

基　　金：国家公益性行业科研专项项目(GYHY201306079) 国家自然科学基金项目(61605082) 江苏高校品牌专业建设工程资助项目 

出 版 物：《仪表技术与传感器》 (Instrument Technique and Sensor)

年 卷 期：2018年第7期

页      码：77-80页

摘      要：设计了一种基于模拟选择开关和故障字典的数字芯片检测系统,主控芯片采用MSP430单片机,实现了对常见数字芯片的自动化故障检测,可以检测数字芯片是否存在短路、开路和逻辑功能错误等故障,并可确定具体故障位置。芯片的短路、开路检测基于数字芯片内部的二极管钳位保护电路,通过霍尔电流传感器和ADC进行检测。测量结果显示,该系统的测量准确率高,测量速度快,功耗低,可实现电池供电和手持化。

主 题 词：数字芯片 故障字典 故障检测 霍尔器件 单片机 逻辑功能 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-1841.2018.07.021

馆 藏 号：203306811...