芯片内置测试电路的设计

作     者：丁东民 顾汉玉 Ding Dongmin;Gu Hanyu

作者机构：华润半导体(深圳)有限公司广东深圳518035 广东晶电子股份有限公司广东深圳518000 

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：2018年第29卷第14期

页      码：18-19,24页

摘      要：本文介绍了一个精巧的测试电路,采用1个测试端口,可以实现三种测试功能,既可以作为输入端口向芯片输入信号,也可以作为输出端口观察芯片的输出,还可以作为控制端控制芯片的内部状态,有效降低了芯片的可测性设计成本。

主 题 词：可测性 测试效率 芯片成本 I/O口 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16520/j.cnki.1000-8519.2018.14.005

馆 藏 号：203322633...