抗差分故障攻击的AES密码芯片设计

作     者：付小兵 严迎建 朱巍巍 FU Xiao Bing;YAN Ying Jian;ZHU Wei Wei

作者机构：解放军信息工程大学电子技术学院河南郑州450004 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2009年第35卷第9期

页      码：153-156页

摘      要：针对AES的差分故障攻击(DFA)过程,总结出对AES的DFA攻击算法与攻击模型的特点,在此基础上为AES密码芯片设计了一种基于TRC校验的防护电路,并对其抗差分故障攻击的可行性进行了仿真验证。结果表明,该防护电路能够快速准确地检测出导入错误,增强了AES芯片抗DFA攻击的能力。

主 题 词：差分故障攻击 AES 攻击模型 TRC 防护电路 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.2009.09.031

馆 藏 号：203324944...