基于K60的数字逻辑芯片测试仪设计

作     者：任玲芝 张光照 李哲文 

作者机构：巢湖学院机械与电子工程学院安徽巢湖238000 

基　　金：安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2016A509) 2017年度国家级大学生创新创业训练计划项目(201710380022) 

出 版 物：《赤峰学院学报（自然科学版）》 (Journal of Chifeng University(Natural Science Edition))

年 卷 期：2018年第34卷第8期

页      码：108-110页

摘      要：针对数字逻辑芯片损坏时却无法观察的情况,采用K60控制器,配合液晶显示屏、矩阵按键和芯片检测电路等,设计了一款界面友好、操作简单,具有检测数字逻辑芯片功能的芯片测试仪.不仅能够检测整个芯片是否正常工作,若芯片有多路输入输出,还能够检测具体某一路输入输出的运行状况,这样即使某路输入输出不能正常使用,还可以使用其他路,提高了芯片的利用率.

主 题 词：K60 数字逻辑芯片 液晶显示屏 矩阵按键 

学科分类：080903[080903] 080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-260X.2018.08.039

馆 藏 号：203324990...