测试基准电路ITC’02剖析及其应用现状

作     者：张艳红 陈朝阳 Zhang Yanhong;Chen Chaoyang

作者机构：华中科技大学图像所集成电路设计中心湖北武汉430074 

基　　金：国家自然科学基金(90207020) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2006年第14卷第7期

页      码：850-852页

摘      要：文章首先对测试基准电路ITC’02的产生背景进行了介绍,然后就文件书写格式、系统芯片命名规则、应用范围以及测试问题的分类等进行了比较详细的介绍和剖析,分析了该基准的统计特性,并对其应用现状做了比较详细的考察；为集成电路可测性设计相关研究与开发人员提供了一个新的测试基准参考。

主 题 词：ITC’02 基准 模块 层次 Soc TAM 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3321/j.issn:1671-4598.2006.07.004

馆 藏 号：203325734...