面向弹载计算机的BIT技术研究

作     者：边维 邓凯 王建才 张淑舫 BIAN Wei;DENG Kai;WANG Jiancai;ZHANG Shufang

作者机构：天津津航计算技术研究所天津300308 空军驻京津地区军事代表室天津300308 

出 版 物：《计算机工程与应用》 (Computer Engineering and Applications)

年 卷 期：2018年第54卷第17期

页      码：231-237页

摘      要：机内测试(Built-In-Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径。在对弹载计算机BIT技术特征进行研究的基础上,提出了弹载计算机BIT设计的基本准则,提供了一种典型的弹载计算机BIT设计方法,经实践验证该设计方法适用于多种类型的弹载计算机设备,故障检测率不低于90%,故障虚警率不超过2%,显著地提高了弹载计算机的可靠性、可测试性及可维护性。

主 题 词：弹载计算机 机内测试 故障检测率 虚警率 

学科分类：08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3778/j.issn.1002-8331.1705-0141

馆 藏 号：203326120...