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基于单片机的残余奥氏体磁性测量法

基于单片机的残余奥氏体磁性测量法

作     者:刘红樱 王海华 王程 

作者机构:合肥工业大学合肥230009 

出 版 物:《中国仪器仪表》 (China Instrumentation)

年 卷 期:2007年第12期

页      码:35-37页

摘      要:介绍基于MSP430F133单片机的数字式残余奥氏体测量仪的工作原理、电路设计、程序说明和调试结果。该测量仪克服了冲击检流计电量测量的弊端,操作方便、显示清晰、数据重复精度高,具有实用价值。

主 题 词:残余奥氏体 MSP430单片机 磁性法 

学科分类:08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 081102[081102] 0811[工学-水利类] 

D O I:10.3969/j.issn.1005-2852.2007.12.006

馆 藏 号:203327693...

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