测微量具压离线校正夹具的设计

作     者：刘兴富 

作者机构：广州威而信精密仪器有限公司西安分公司 

出 版 物：《中国计量》 (China Metrology)

年 卷 期：2005年第6期

页      码：52-52页

摘      要：压离线现象是测微量具产生粗大误差的根源,往往由于压离线超差而把被测读数读错0.5mm.因此,压离线的校正是测微量具不可忽视的调修项目.

主 题 词：测微量具 压离线现象 粗大误差 校正夹具 误差分析 

学科分类：08[工学] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1006-9364.2005.06.034

馆 藏 号：203331660...