基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计

作     者：须自明 苏彦鹏 于宗光 XU Zi-ming;SU Yan-peng;YU Zong-guang

作者机构：江南大学信息工程学院江苏无锡214000 

基　　金：电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室资助项目(51433020105DZ6802) 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2007年第32卷第3期

页      码：245-247页

摘      要：针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。

主 题 词：静态存储器 March C-算法 内建自测试 

学科分类：08[工学] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353X.2007.03.017

馆 藏 号：203332268...