从结构角度对微处理机进行功能测试

作     者：梁业伟 

作者机构：北京计算机学院 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：1990年第2卷第4期

页      码：49-53页

摘      要：文中提出了一般用户从结构角度对微机处理机进行功能测试的实用方法。用户把从手册等资料中收集到的信息绘制出一个测试用的逻辑结构功能框图,该框图以运算部件为中心,标出了主要部件和数据通道。测试根据这个框图来进行,基本故障模型为单个可检测的s.a.0(1)。如果实践认为确有必要,在局部范围内可扩大该故障模型。

主 题 词：结构角度 微处理机 功能 测试 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203332833...