高功率电磁环境下C^4ISR系统接口电路的阈值实验

作     者：陶灵姣 吕承立 蔡士林 李智 柴焱杰 TAO Ling-jiao;Lü Cheng-li;CAI Shi-lin;LI Zhi;CHAI Yan-jie

作者机构：第二炮兵工程学院西安710025 第二炮兵装备研究院北京100085 

基　　金："十一五"国防预研基金资助项目(51311030301) 获军队科技进步二等奖 

出 版 物：《火力与指挥控制》 (Fire Control & Command Control)

年 卷 期：2010年第35卷第7期

页      码：165-168页

摘      要：采用非接触式电流脉冲注入法,设计了一种通用的接口电路实验模型和测试软件,进行了高功率电磁脉冲对指控系统接口电路的注入损伤实验,测量接口电路耦合电压和耦合电流,并对实验结果进行了分析。实验表明,强电磁能量耦合到电子装备和电气设备内部,可在其接口电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰和损伤。

主 题 词：电磁脉冲 接口电路 耦合 敏感性 损伤 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-0640.2010.07.048

馆 藏 号：203333528...