框架式断路器的触头超程公差仿真分析技术

作     者：刘爱强 王华章 张金泉 候东旭 

作者机构：江苏大全集团凯帆电器股份有限公司 南京航空航天大学 

出 版 物：《电气制造》 (Journal of Electrical Engineering)

年 卷 期：2011年第10期

页      码：52-54页

摘      要：基于产品设计中的尺寸管理思想,结合计算机仿真分析软件VSA和分析技术,以框架式断路器为例对断路器的触头超程理论值进行公差分析。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期。

主 题 词：框架式断路器 仿真分析软件 公差分析 技术 超程 触头 产品设计 产品尺寸 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

馆 藏 号：203340299...