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保偏光纤双折射分析及全光纤拍长测试方法比对研究

保偏光纤双折射分析及全光纤拍长测试方法比对研究

作     者:姜暖 李智忠 杨华勇 胡永明 

作者机构:国防科学技术大学光电科学与工程学院湖南长沙410073 海军潜艇学院山东青岛266071 

基  金:国家自然科学基金(60901054)资助课题 

出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期:2012年第32卷第7期

页      码:91-96页

摘      要:理论分析了保偏光纤双折射效应,应用有限元法建立了保偏光纤的三维模型,得到了其横截面上的应力分布及归一化的双折射参数。选择3种全光纤构成的纯光学系统进行对比拍长测试实验,实验结果和理论模型计算结果十分吻合,并对比研究了几种测试方法的优缺点。选定一种光路结构简单有效的双折射测试系统,对高双折射光子晶体光纤进行测试,测得了其归一化的双折射参数,并计算得其拍长约为1.2mm。研究结果对不同复杂结构保偏光纤的建模理论分析和拍长性能测试及高双折射光子晶体光纤设计制作后的性能测试有一定的实用价值。

主 题 词:光纤光学 保偏光纤 有限元法 全光纤系统 拍长测试 高双折射光子晶体光纤 

学科分类:080904[080904] 0810[工学-土木类] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 0805[工学-能源动力学] 081001[081001] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3788/aos201232.0706003

馆 藏 号:203340636...

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