电磁兼容试验中亥姆霍兹线圈的设计及验证

作     者：赵士桢 吴祯玮 马欣 Zhao Shizhen;Wu Zhenwei;Ma Xin

作者机构：上海市计量测试技术研究院 上海市电磁兼容检测重点实验室 

基　　金：国家质检总局科技计划项目(2010QK278) 

出 版 物：《上海计量测试》 (Shanghai Measurement and Testing)

年 卷 期：2012年第39卷第3期

页      码：7-11页

摘      要：主要研究电磁兼容中亥姆霍兹线圈低频磁场抗扰度试验技术,给出了亥姆霍兹线圈的设计研制思路。根据国际标准和实际使用情况的要求,对其结构、性能及均匀性等分别进行分析、研究和验证,并对实际使用的磁场强度根据具体标准进行了举例验证。研究成果能为电磁兼容低频磁场的测试方法与测试线圈的研制提供技术指导。

主 题 词：电磁兼容 亥姆霍兹线圈 低频磁场 抗扰度 场均匀性 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-2235.2012.03.002

馆 藏 号：203341811...