看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >NI和泰克:打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛"圆... 收藏
NI和泰克:打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛"圆满落幕

NI和泰克:打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛"圆满落幕

出 版 物:《电工技术杂志》 (Electrotechnical Journal)

年 卷 期:2004年第26卷第9期

页      码:10-10页

摘      要:美国国家仪器中国有限公司(National Instruments.简称NI)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)于2004年7~8月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛”。

主 题 词:双赢 北京 美国国家仪器中国有限公司 论坛 国有 深圳 成都 测试 验证 设计 

学科分类:12[管理学] 080801[080801] 1201[管理学-管理科学与工程类] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号:203346806...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分