基于提高线阵CCD测量系统测量精度的研究

作     者：江育民 黄惟公 杨益 Jiang Yumin;Huang Weigong;Yang Yi

作者机构：西华大学机械工程与自动化学院成都610039 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2010年第33卷第6期

页      码：98-101页

摘      要：为了提高线阵CCD测量系统的测量精度,从影响系统的几个主要方面进行了分析研究,并提出相关的改善措施。文中除了详细论述了线阵CCD传感器、光源成像系统、A/D转换器等器件系统外,还分析研究了信息采集、驱动电路设计方法和图像处理的软件算法,详述了双相关采样法,单片机驱动,复杂可编程逻辑器件驱动和线阵CCD的细分方法,并进行适当的改善。指出线阵CCD的细分方法将是未来研究改善系统测量精度的主要方向,经过改善后的系统测量精度将大大提高。

主 题 词：线阵CCD 测量精度 驱动电路 细分方法 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2010.06.028

馆 藏 号：203348902...