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基于激光双测头的印铁涂层湿膜厚度测量评估系统设计

基于激光双测头的印铁涂层湿膜厚度测量评估系统设计

作     者:张军 鞠家全 郑天池 万莉平 邱自学 ZHANG Jun;JU Jia-quan;ZHENG Tian-chi;WAN Li-ping;QIU Zi-xue

作者机构:南通大学机械工程学院江苏南通226019 

基  金:2013年度江苏省博士集聚计划人才计划项目 江苏省产学研前瞻性联合研究项目(BY2015047-11) 

出 版 物:《仪表技术与传感器》 (Instrument Technique and Sensor)

年 卷 期:2016年第4期

页      码:87-90页

摘      要:为满足工业印铁涂层厚度高精度测量需求,基于激光测厚技术,结合机械伺服装置研制了一种非接触、高精度的印铁涂层湿膜厚度测量评估系统。设定激光双测头工作在线性度误差较小的中心范围内,采用激光双测头对印铁表面测量区域的湿膜厚度进行差分测量,根据这些测量值拟合整个金属薄板表面的涂层厚度情况。详细介绍了系统的硬件及软件设计,并对系统进行了精度实验。结果表明系统可以对印铁湿膜厚度进行检测,测量精度达±3.72μm,同时可快速拟合膜厚三维曲面图形,实现湿膜厚度均匀性评估。

主 题 词:印铁涂层 激光双测头 厚度测量 湿膜 三维曲面 均匀性评估 

学科分类:08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D O I:10.3969/j.issn.1002-1841.2016.04.027

馆 藏 号:203351653...

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