物理测试开发工作组及TST11.1规范简介

作     者：唐世庆 赵虹 王晓蕾 杜高明 

作者机构：合肥工业大学微电子设计研究所合肥230009 成都国腾通讯集团成都610041 

基　　金：国家863基金资助项目(863-SOC-Y-3-1-1) 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2002年第19卷第11期

页      码：16-18页

摘      要：文章简单介绍了VSIA十一个开发工作组之一的“物理测试开发工作组”的最新技术进展状况,并以在SoC整个芯片的测试中VC测试需解决的诸多问题为线索,对其颁布的规范“VC供应商的测试数据交换格式和准则的规范”作了重点介绍。指明了制定测试规范对降低测试成本,推动SoC产业发展具有重要的意义。

主 题 词：物理测试开发工作组 TST11.1规范 系统芯片 超大规模集成电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-7180.2002.11.006

馆 藏 号：203351817...