Signal Integrity for 0.18μm CMOS Technology

作     者：孙加兴 叶青 周玉梅 叶甜春 SUN Jiaxing;Ye Qing;ZHOU Yumei;Ye Tianchun

作者机构：中国科学院微电子中心北京100029 

出 版 物：《Journal of Semiconductors》 (半导体学报（英文版）)

年 卷 期：2003年第24卷第10期

页      码：1030-1034页

摘      要：The signal integrity problem in 0.18μm CMOS technology is analyzed from *** rules in this phenomenon are found by analyzing the crosstalk delay and noise,which are helpful for the future circuit design.

主 题 词：interconnect delay signal integrity crosstalk noise 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4926.2003.10.005

馆 藏 号：203355442...