系统芯片的边界扫描测试与调试方法研究

作     者：黄文君 颜学龙 建珍珍 Huang Wenjun;Yan Xuelong;Jian Zhenzhen

作者机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541004 

基　　金：广西研究生科研创新项目(2010105950804M33) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2012年第20卷第5期

页      码：1199-1202页

摘      要：针对系统芯片的多内核结构违反边界扫描标准而导致不可测试的问题,IEEE 1149.7标准提出了多片上TAPC结构的测试与调试方法;以该标准为依据,利用QuartusⅡ软件设计在测试与调试系统中具有关键作用的边界扫描测试控制器;重点阐明了多内核系统芯片的调试原理与调试流程、控制器的结构与作用等;仿真结果表明控制器能够产生符合标准的调试信号,具有良好的可行性与有效性,对系统的构建具有积极的意义。

主 题 词：边界扫描 多片上TAPC结构 测试与调试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.05.039

馆 藏 号：203356563...