全定制芯片的测试码产生方法

作     者：邓勤学 李少青 陈绥阳 DENG Qin-xue;LI Shao-qing;CHEN Sui-yang

作者机构：国防科学技术大学湖南长沙410073 西安思源学院陕西西安710038 西安交通大学陕西西安710049 

出 版 物：《航空计算技术》 (Aeronautical Computing Technique)

年 卷 期：2008年第38卷第6期

页      码：92-94,98页

摘      要：针对全定制设计的芯片提出人工产生测试码的方法。该方法充分利用功能验证程序,从中挑选出对测试有用的信息,经过转换得到满足基本故障覆盖的测试码;再结合芯片自身的结构特点,合理利用芯片内部的调试结构,并按功能部件利用调试链路追加测试码,从而补充完善得到比较完备的测试码。

主 题 词：测试码产生 功能码 调试链路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-654X.2008.06.026

馆 藏 号：203363598...