基于步进应力加速寿命试验的硅压力传感器寿命预测

作     者：吴永亮 陈国光 孟召丽 Wu Yongliang;Chen Guoguang;Meng Zhaoli

作者机构：中北大学机电工程学院太原030051 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2009年第32卷第12期

页      码：44-47页

摘      要：通过提高硅压力传感器的高温环境应力,研究制定了其加速寿命试验的设计方案,进行了步进应力加速寿命试验。利用线性回归方法完成了试验数据的统计和分析,应用威布尔分布函数描述其寿命分布并完成了常温应力下的寿命预测。研究结果表明,试验设计方案是正确可行的,硅压力传感器的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合阿伦尼斯方程,加速参数的精确计算确保以后在很短的时间内便可估算出在正常应力下的寿命。

主 题 词：硅压力传感器 步进加速寿命试验 威布尔分布 寿命预测 

学科分类：08[工学] 080202[080202] 0802[工学-机械学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2009.12.013

馆 藏 号：203364120...