基于普通X射线机的厚度测量

作     者：蔡闰生 

作者机构：航天材料及工艺研究所北京100076 

出 版 物：《中国测试》 (China Measurement & Test)

年 卷 期：2012年第38卷第6期

页      码：23-25页

摘      要：通常情况下,X射线底片黑度是测试过程中管电压、管电流、材料密度、测试厚度、胶片特性、冲洗条件以及散射线防护等多种因素共同作用的结果。但特定条件下,通过简化设计,可以使黑度的变化相对单一地表现出厚度的变化,并由此建立底片黑度与厚度之间的联系,使其可以从厚度与黑度的对应数据出发,通过回归分析的方法,寻找出厚度与黑度的内在关联规律。进而通过射线能量、射线强度等参数对这种指数规律的影响分析和实测验证,最终确定应用普通X射线机进行厚度测量的可行性及测量准确度。

主 题 词：X射线 黑度 线性回归 厚度 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

馆 藏 号：203365490...