平板封头与筒体连接区疲劳可靠性分析

作     者：陈惠亮 姚伟达 曹明 黄庆 薛国宏 CHEN Huiliang;YAO Weida;CAO Ming;HUANG Qing;XUE Guohong

作者机构：上海核工程研究设计院上海200233 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2013年第36卷第4期

页      码：195-199页

摘      要：设备疲劳设计中存在诸多不确定因素,而使用概率方法可以辅助设计。为得到某平板封头连接区域疲劳可靠性,本文考虑结构几何尺寸和载荷不确定性,使用可靠性分析方法对其进行疲劳可靠性分析。计算结果表明,几何尺寸不确定因素对结构疲劳寿命不确定性影响不能忽略。同时,提出一种基于6σ概念求解载荷不确定性的疲劳可靠性计算方法,其可与几何不确定性可靠性计算方法结合使用得到综合考虑几何载荷不确定性的结果。

主 题 词：疲劳 可靠性 蒙特卡罗模拟 几何 载荷不确定性 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 080706[080706] 13[艺术学] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

馆 藏 号：203365632...