基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计研究

作     者：张荣 黄海莹 李春枝 卫剑峰 蒋宇 Zhang Rong;Huang Haiying;Li Chunzhi;Wei Jiangfeng;Jiang Yu

作者机构：中国工程物理研究院总体工程研究所四川绵阳621900 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2012年第20卷第2期

页      码：303-306页

摘      要：介绍了利用NIOSⅡ软核处理器设计嵌入式测试系统的两类系统架构,详细讲述了基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计方法;最后结合EP2C8Q-208C8型FPGA芯片,利用Verilog语言描述A/D芯片的工作时序逻辑,利用NIOSⅡ软核处理器设计串口处理单元,将A/D采集的数据通过串口发送到计算机显示。实践表明,利用NIOS II软核处理器设计嵌入式测试系统,具有开发周期短,系统集成度高,功能灵活多样等特点,与传统利用单片机设计嵌入式测试系统相比,具有时钟频率高、运行速度快、调试方便等特点,是一种值得推广的嵌入式测试系统设计方法。

主 题 词：NIOSⅡ软核处理器 嵌入式测试系统 单片机 FPGA A/D 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081002[081002] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.02.048

馆 藏 号：203371971...