集成电路ESD设计验证技术

作     者：罗宏伟 肖庆中 路香香 石晓峰 LUO Hong-wei;XIAO Qing-zhong;LU Xiang-xiang;SHI Xiao-feng

作者机构：电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室信息产业部电子五所广州510610 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2008年第38卷第6期

页      码：757-760页

摘      要：传输线脉冲(TLP)测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的I-V特性曲线,提取特征参数,将有利于ESD加固设计的一次成功;通过对典型TLP测试波形的分析,将TLP试验与器件的大电流响应建立联系;最后对扩散电阻和nMOSFET的TLP典型I-V特性进行了分析,并给出了实际的设计参数。

主 题 词：集成电路 传输线脉冲测试 ESD加固设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203372213...