嵌入式逻辑分析仪在FPGA设计中的应用

作     者：邓成 张亚妮 白璘 孙肖子 DENG Cheng;ZHANG Yani;BAI Lin;SUN Xiaozi

作者机构：西安电子科技大学陕西西安710071 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2006年第29卷第2期

页      码：76-77,84页

摘      要：设计和验证超高密度FPGA的方法是采用逻辑分析仪、示波器和总线分析仪,通过测试头和连接器把信号送到仪器上。随着FPGA设计复杂度的增加,传统的测试方法受到局限。在FPGA内部嵌入逻辑分析核,构成一种嵌入式逻辑分析仪,对FPGA器件内部所有的信号和节点进行测试,这一方法同样可以达到FPGA开发中硬件调试的要求,并且具有无干扰、便于升级和使用方便等优点。SignalTapⅡ正是这样一种嵌入式逻辑分析仪,本文详细介绍了其在调试FPGA时的具体方法和步骤。

主 题 词：嵌入式 逻辑分析仪 FPGA SignalTapⅡ 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-373X.2006.02.030

馆 藏 号：203373031...