改进的遗传算法在测试数据自动生成中的应用

作     者：高海昌 冯博琴 朱利 郭斌 GAO Hai-chang;FENG Bo-qin;ZHU Li;GUO Bin

作者机构：西安交通大学电子与信息工程学院陕西西安710049 西安交通大学软件学院陕西西安710049 

基　　金：国家"863"高技术计划资助课题(2003AA1Z2610) 

出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期：2006年第28卷第7期

页      码：1077-1081页

摘      要：提出了图的一种新的存储方式:双向邻接链表,可完备地表示软件项目的类图结构。基于自动插装,构造了一种新颖的用树结构来设计适应度函数的改进遗传算法iAGA,并使用自适应的交叉和变异算子来进行下一代生成。将改进算法与基本遗传算法SGA和自适应遗传算法AGA进行了比较,发现可以明显节省搜索和生成时间。使用三角形分类等实例进行了测试数据自动生成的验证,证明所提的iAGA改进算法是有效的。对采用均匀权值、自顶向下和自底向上这三种权值分配方式进行了比较,实验表明在采用树结构计算适应度方式下,均匀分配权值比较。

主 题 词：测试数据 遗传算法 自适应算子 树结构 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 0811[工学-水利类] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1001-506X.2006.07.036

馆 藏 号：203373196...