上电复位电路在RFID标签中的可测试性设计

作     者：温立国 王岩 WEN Li-guo;WANG Yan

作者机构：华大半导体有限公司北京102209 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2018年第27卷第10期

页      码：15-19页

摘      要：在RFID标签的设计中,系统的功耗及性能一致性至关重要。上电复位电路作为整个系统的初始复位信号,其检测电源电压的大小、一致性和可测试性直接影响到标签的性能好坏和量产后的一致性。本文针对RFID标签对低功耗、高一致性的需求,通过创新设计了一款低功耗的POR模块,针对POR的特点设计了测试电路,成功实现POR电路检测电压的可测试、可筛选和可调整。圆片测试结果符合设计预期,为实现高性能,低成本的标签设计奠定基础。

主 题 词：POR 可测试性 低功耗 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 081104[081104] 08[工学] 0804[工学-材料学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

馆 藏 号：203379660...