数字芯片中时钟产生模块的设计与验证

作     者：杨斌 史亚维 

作者机构：西安紫光国芯半导体有限公司 咸阳职业技术学院 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2018年第18期

页      码：153-153页

摘      要：随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块（ClockGenerationUnit,CGU）是数字芯片不可缺少的-部分.因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求.

主 题 词：数字芯片 功能验证 时钟产生 设计结构 模块 代码覆盖率 方法学 C语言 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19353/j.cnki.dzsj.2018.18.079

馆 藏 号：203379928...