可满足性求解方法在SoC验证和测试中的应用

作     者：孙强 

作者机构：牡丹江师范学院工学院黑龙江牡丹江157011 

基　　金：黑龙江省高校青年学术骨干项目(1253G060) 

出 版 物：《牡丹江师范学院学报（自然科学版）》 (Journal of Mudanjiang Normal University：Natural Sciences Edition)

年 卷 期：2015年第41卷第4期

页      码：25-27页

摘      要：介绍可满足性(SAT)求解方法在向量自动生成、符号模型检查和组合电路等价性检查等在电子设计自动化(Electronic Design automation,EDA)研究领域中的应用,阐述SoC芯片验证和测试采用可满足性(SAT)方法进行解决的原理.满足性(SAT)求解方法可有效地减少验证和测试所需时间,提高SoC芯片设计的效率和可靠性.

主 题 词：片上系统 验证 测试 可满足性问题 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.13815/j.cnki.jmtc(ns).2015.04.012

馆 藏 号：203382284...