面向电子控制器的片上可调试性结构设计

作     者：结硕 张黎 

作者机构：北京工业大学耿丹学院北京市101301 

出 版 物：《电子技术与软件工程》 (ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING)

年 卷 期：2018年第21期

页      码：92-92页

摘      要：从当今高可靠电子器件的功能调试方面来看,如今串口形式依然是主流形式,占据大半市场,但是其整体通信效率低、误码率较高、不适合功能集成等情况已经无法满足未来市场发展趋势。基于此,本文首先对串口调试方案进行分析,进而提出一种基于JTAG的调试方案与系统设计,旨在弥补串口方案的弊端。

主 题 词：电子控制器 片上可调式 结构设计 JTAG串口 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203395187...