基于单片机的芯片检测仪的设计

作     者：郭雷岗 韩超 李昭静 

作者机构：郑州电力高等专科学校河南郑州450004 

出 版 物：《福建电脑》 (Journal of Fujian Computer)

年 卷 期：2011年第27卷第6期

页      码：166-166页

摘      要：在高校的教学实验环节中,TTL系列和CMOS系列数字集成芯片损毁率很高,本文采用AT89C51单片机设计了集成芯片测试系统,成本低,易操作,可对芯片进行检测,看能否继续使用,对实验教学效果有很大的帮助。

主 题 词：单片机 芯片检测 高校实验室 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0838[0838] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-2782.2011.06.084

馆 藏 号：203395591...