极板厚度对电容边缘效应影响的理论和仿真分析

作     者：雷建华 Lei Jianhua

作者机构：暨南大学信息技术研究所广州广东510075 

出 版 物：《电脑与电信》 (Computer & Telecommunication)

年 卷 期：2013年第8期

页      码：52-53,55页

摘      要：理论分析了极板厚度对电容边缘效应的影响,并利用ANSYS有限元仿真软件分析平行板电容器的电磁场分布。研究发现,理论分析和仿真结果非常吻合,边缘效应随着极板厚度的增大而增大。因此,在实际设计中,需要在工艺的可行性基础上,尽可能减小极板厚度,既可以节省材料又能减小边缘效应带来的影响。

主 题 词：平行板电容器 边缘效应 极板厚度 

学科分类：080202[080202] 08[工学] 0802[工学-机械学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1008-6609.2013.08.039

馆 藏 号：203402324...