军用塑封器件分层缺陷可靠性风险评估方法探讨

作     者：田健 王伯淳 王瑞崧 TIAN Jian;WANG Bochun;WANG Ruisong

作者机构：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所湖北孝感432000 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2018年第18卷第A1期

页      码：36-38页

摘      要：目前，国内尚无一种有效的评价方法和途径，对存在分层缺陷的塑封器件在长期使用环境下的适用性进行评定，严重限制了塑封器件在军用型号产品上的推广应用。通过分析军用塑封器件分层缺陷的长期潜在可靠性风险，全面考虑器件在整个使用期内各个阶段的使用环境条件，结合历年来作者在实际工作中对常见塑封器件分层缺陷的统计情况，对实验样品和实验方法进行合理设计，对其分层缺陷的可靠性评估方法进行了探讨。这对后续实验研究工作的开展以及风险评价方案的建立具有重要的指导意义。

主 题 词：塑封器件 分层缺陷 可靠性 环境条件 风险评估 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

馆 藏 号：203405449...