AFM纳米操纵中侧向推动力的测量方法

作     者：张宇军 李鹏 胡元中 王慧 黄兰 

作者机构：清华大学精密仪器与机械学系摩擦学国家重点实验室北京100084 清华大学物理系北京100084 北京大学化学与分子工程学院北京100871 

基　　金：教育部博士点基金资助项目(2000000339) 国家"九七三"重点基础研究项目(2003CB716201) 国家自然科学基金资助项目(50390060 50173001) 

出 版 物：《清华大学学报（自然科学版）》 (Journal of Tsinghua University(Science and Technology))

年 卷 期：2004年第44卷第8期

页      码：1025-1028页

摘      要：纳米级操纵技术是制造纳米级结构、器件的重要方法之一,同时也是研究纳米粒子之间相互作用的重要手段。该文在运用原子力显微镜的探针操纵碳纳米管的同时,开发了一种纳米级操纵力的同步测量方法。应用该方法,成功测量出了操纵、切割碳纳米管的侧向力信息,从而为研究纳米粒子、基体与操纵工具之间的相互作用提供了最直接的力学信息和实验结果。在此基础上,可以进行初步的纳米设计,研究纳米新材料的力学特性。

主 题 词：纳米操纵 碳纳米管 侧向力测量 原子力显微镜 

学科分类：0810[工学-土木类] 07[理学] 070205[070205] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 0701[理学-数学类] 0812[工学-测绘类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1000-0054.2004.08.007

馆 藏 号：203408429...