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通用低频测试系统软硬件平台及可测试性研究

通用低频测试系统软硬件平台及可测试性研究

作     者:高翠云 李岳民 

作者机构:安徽建筑工业学院合肥230022 安徽振兴科技股份有限公司合肥230031 

基  金:科技部科技型中小企业创新基金(02c26223400627) 安徽省教育厅自然基金(2006KJ067B)资助 

出 版 物:《中国仪器仪表》 (China Instrumentation)

年 卷 期:2007年第3期

页      码:38-40页

摘      要:针对国内仪器仪表行业产品缺乏开放性、互换性和可测试性的现状,本文提出建立具有自主产权的通用低频测试平台。基于用户需求分析进行软硬件建模,采用多总线DSP高速数据采集技术为核心建立硬件平台,利用底层软件的组件技术开发软件平台。在电力测试设备、电工电子实验教学设备的设计应用中效果很好。

主 题 词:开放性 通用虚拟仪器平台 DSP 组件技术 

学科分类:08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 081102[081102] 0811[工学-水利类] 

D O I:10.3969/j.issn.1005-2852.2007.03.007

馆 藏 号:203409317...

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