Fe/ZnO(0001)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

作     者：张旺 徐法强 王国栋 张文华 李宗木 王立武 陈铁锌 Zhang Wang;Xu Fa-Qiang;Wang Guo-Dong;Zhang Wen-Hua;Li Zong-Mu;Wang Li-Wu;Chen Tie-Xin

作者机构：中国科学技术大学国家同步辐射实验室核科学与技术学院合肥230029 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:10775126 10975138)资助的课题 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2011年第60卷第1期

页      码：545-551页

摘      要：利用同步辐射光电子能谱(SRPES)和X射线光电子能谱(XPS)技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO(0001)衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2+离子,在Fe覆盖度为0—3nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.

主 题 词：Fe/ZnO 界面作用 同步辐射光电子能谱 X射线光电子能谱 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.7498/aps.60.017104

馆 藏 号：203410782...