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微带器件双端口测试的校准件设计

微带器件双端口测试的校准件设计

作     者:李秀萍 任正 李南 

作者机构:北京邮电大学电子工程学院北京100876 东南大学毫米波国家重点实验室南京210096 

基  金:国家自然科学基金项目(61072009) 毫米波国家重点实验室项目(K201209) 中央高校基本科研业务费专项项目 

出 版 物:《北京邮电大学学报》 (Journal of Beijing University of Posts and Telecommunications)

年 卷 期:2013年第36卷第5期

页      码:1-5页

摘      要:通过校准修正矢量网络分析仪全部12项系统误差,利用Matlab程序实现了SOLT(short、open、load、through)和TRL(through、reflect、line)校准算法,去除误差项,得到真实的S参数.通过与矢网校准结果相对比验证了算法和程序的正确性,并在此基础上制作了SOLT和TRL微带结构校准件,并成功用于滤波器测试.

主 题 词:校准件 系统误差 校准算法 S参数测量 

学科分类:080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录:

D O I:10.13190/j.jbupt.2013.05.001

馆 藏 号:203412156...

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