基于某型电子设备的装备测试性设计研究

作     者：古兆兵 王庆民 无

作者机构：军事科学院系统工程研究院北京100141 

出 版 物：《计测技术》 (Metrology & Measurement Technology)

年 卷 期：2018年第38卷第A01期

页      码：160-162页

摘      要：主要分析研究了电子装备全寿命测试性工作任务和设计流程,以某型电子设备为例,详细介绍了设备级和电路板级测试接口、引脚定义设计,以及承载测试协议设计实现。

主 题 词：测试接口 引脚定义 测试协议 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 08[工学] 

馆 藏 号：203416650...