边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用

作     者：王宁 李桂祥 张尊泉 

作者机构：空军雷达学院研究生队湖北武汉430019 空军雷达学院雷达系统工程系湖北武汉430019 空军雷达学院改装训练系湖北武汉430019 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2003年第28卷第10期

页      码：42-45,50页

摘      要：在对描述器件边界扫描特性的BSDL语言进行了深入研究之后,将其应用于边界扫描自动测试图形生成ATPG与故障诊断软件中。本文以EPM7128SL84芯片为例,说明了其BSDL描述在边界扫描测试程序中的应用方法与要点。

主 题 词：边界扫描器件 测试 BSDL语言 EPM7128SL84芯片 可测性设计 电子系统设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353X.2003.10.013

馆 藏 号：203417107...