亚微米LATCHUP测试分析实例

作     者：郑若成 刘国贤 肖志强 

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2004年第4卷第1期

页      码：47-51,46页

摘      要：关于LATCHUP理论目前相当丰富,但是关于LATCHUP的具体测试和分析文献很少介绍。本文讨论门亚微米工艺LATCHUP测试的一个例子。门的LATCHUP测试不属于常规PCM参数测试,但是在新工艺开发时,必须进行相关测试来确认设计规则。在这个例子里,作者进行LATCHUP测试和分析,最后得出相关结论。对于LATCHUP测试,不同工艺和不同测试结构在实际测试时可能会有些不同考虑,因此,希望该例子能给读者提供一些关于LATCHUP测试和分析的思路。

主 题 词：亚微米LATCHUP 测试结构 结构尺寸 触发测试. 结构设计 

学科分类：080903[080903] 080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-1070.2004.01.013

馆 藏 号：203417409...