基于TCBR的测试用例复用方法研究

作     者：余祥 李强 孙胜军 YU Xiang;LI Qiang;SUN Sheng-jun

作者机构：电子工程学院科研部安徽合肥230037 南京军区司令部江苏南京210016 

出 版 物：《计算机工程与设计》 (Computer Engineering and Design)

年 卷 期：2012年第33卷第11期

页      码：4230-4234,4313页

摘      要：为了提高设计测试用例的效率,提高软件测试效率,提出了基于测试用例推理的测试用例复用方法。介绍了基于测试用例推理方法,说明了基于测试用例推理的测试用例复用过程。确定了测试用例和测试用例集包含的要素集合,并在此基础上建立了测试用例相似度度量模型。针对模型的3个组成部分,即结构相似度、属性相似度和属性权重,分别作了计算说明,改进K最近邻算法,建立了测试用例检索算法。通过实例讨论了该方法的过程,表明了其可行性。

主 题 词：软件测试 测试用例 测试用例库 复用 相似度 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-7024.2012.11.038

馆 藏 号：203418897...