扫描单元及其在ASIC可测性设计中的应用

作     者：于宗光 何晓娃 YU Zong-guang, HE Xiao-wa (Wuxi Microelectronics Institute, Wuxi, Jiansu 214035, China)

作者机构：信息产业部无锡微电子科研中心江苏无锡214035 

基　　金：国防重点实验室(电子元器件可靠性物理及应用技术)基金资助 

出 版 物：《微电子技术》 (Microelectronic Technology)

年 卷 期：2000年第28卷第5期

页      码：33-38页

摘      要：本文首先论述 ＡＳＩＣ可测性的必要性，然后介绍了几种常见的扫描单元， 最后给出了多种选择触发器方法、时钟扫描方法、电平敏感扫描方法等几种内部 扫描方法。

主 题 词：扫描单元 ASIC 可测性 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203419176...