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结构设计对铁电薄膜系统电滞回线的影响

结构设计对铁电薄膜系统电滞回线的影响

作     者:王华 

作者机构:桂林电子工业学院通信与信息工程系桂林541004 

基  金:广西自然科学基金(桂科基0236062) 广西教育厅基金(桂教科研200156) 

出 版 物:《无机材料学报》 (Journal of Inorganic Materials)

年 卷 期:2004年第19卷第1期

页      码:153-158页

摘      要:为制备符合Si集成铁电器件要求的高质量Si基铁电薄膜,采用溶胶-凝胶(sol-gel)工艺,制备了MFM及MFS结构的铁电薄膜系统.研究了不同结构及不同衬底对铁电薄膜系统铁电性能及电滞回线的影响,并对这些差异产生的主要影响因素进行了分析.在此基础上,提出并制备了Ag/Pb(Zr0 52Ti0.48)O3/Bi4Ti3O12/p-Si多层结构,该结构铁电薄膜系统的铁电性能及电滞回线的对称性有明显改善,有望应用于Si集成铁电器件.

主 题 词:铁电薄膜 电滞回线 sol—gel工艺 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 0703[理学-化学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3321/j.issn:1000-324X.2004.01.025

馆 藏 号:203419182...

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