DSP处理器单粒子翻转率测试系统的研制

作     者：雷志军 蒋炯炜 郭刚 薛海卫 雷志广 Lei Zhijun;Jiang Jiongwe;Guo Gang;Xue Haiwei;Lei Zhiguang

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214000 中国原子能科学研究院北京100000 兰州空间技术物理研究所兰州730000 

基　　金：国家×××重点项目(41424030401) 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2019年第44卷第1期

页      码：73-79页

摘      要：航天器及其内部元器件在太空中会受到单粒子效应(SEE)带来的威胁,因此航天用电子器件在装备前必须进行抗SEE能力的测试评估。针对传统测试方法存在的测试系统程序容易在辐照过程崩溃、统计翻转数不准确、单粒子闩锁(SEL)辨别不清晰和忽略内核翻转统计等问题,设计了一种测试系统,通过片外加载与运行程序从而减少因辐照导致片内程序异常的现象;通过片外主控电路统计被测电路翻转数使统计翻转结果准确;通过主控电路控制被测电路时钟供给排除因频率增加导致电流过大而误判发生SEL的情况;通过内核指令集统计内核翻转数。实验结果表明,该测试系统可以实时全面地监测数字信号处理器(DSP)的SEE,并有效防止辐照实验器件(DUT)因SEL而失效。

主 题 词：DSP处理器 单粒子效应(SEE) 测试系统 抗辐照 单粒子翻转率 现场可编程门阵列(FPGA) 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.13290/J.CNKI.BDTJS.2019.01.012

馆 藏 号：203424179...