测试码生成简述

作     者：梁业伟 

作者机构：中国科学院计算所CAD开放实验室北京计算机学院北工大计算机学院 

出 版 物：《计算机辅助设计与制造》 (CAD/CAM)

年 卷 期：1995年第2期

页      码：34-37页

摘      要：测试码生成简述中国科学院计算所ＣＡＤ开放实验室梁业伟北京计算机学院一、测试基本概念数字电路的测试有电性能测试和逻辑测试。逻辑测试的目的是检查电路的逻辑性能是否完好，是否存在逻辑故障。逻辑性能不完好，有错误，则说明存在逻辑故障。这里谈的是逻辑性能，不是...

主 题 词：数字电路 测试码生成 测试 逻辑测试 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203424228...