数字电路测试中的关键技术研究

作     者：郭希维 苏群星 谷宏强 GUO Xiwei;SU Qunxing;GU Hongqiang

作者机构：解放军军械工程学院导弹工程系石家庄050003 

出 版 物：《科学技术与工程》 (Science Technology and Engineering)

年 卷 期：2006年第6卷第18期

页      码：2903-2905,2985页

摘      要：随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题,主要包括故障模型、故障仿真、故障压缩及可测试性度量与测试矢量生成算法(ATPG),并研究了电路测试技术的发展趋势。

主 题 词：测试与诊断 故障模型 可测试性度量 ATPG 

学科分类：08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-1815.2006.18.025

馆 藏 号：203424577...