万能式断路器机构分闸回弹分析及改善

作     者：万里浩 许文良 WAN Lihao;XU Wenliang

作者机构：上海电器科学研究所(集团)有限公司上海200063 

出 版 物：《低压电器》 (Low Voltage Apparatus)

年 卷 期：2010年第19期

页      码：8-12页

摘      要：描述了万能式断路器结构中可能引起的反弹现象,并使用高速摄影和仿真软件对设计进行优化,最终改善了机构的反弹,加快了分闸时间,提高了机构寿命和可靠性。

主 题 词：万能式断路器 机构反弹 机构寿命 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-5531.2010.19.003

馆 藏 号：203426146...