电子装备通用自动测试系统发展及其关键技术

作     者：赵强 刘松风 程鹏 ZHAO Qiang;LIU Song-feng;CHENG Peng

作者机构：海军工程大学电子工程学院湖北武汉430033 海军装备技术研究所北京102442 海军工程大学现代教育技术中心湖北武汉430033 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2011年第19卷第9期

页      码：160-162,169页

摘      要：随着现代电子测试技术、微电子技术、计算机技术的发展,自动测试系统也随着复杂电子装备的需求而不断发展,通用自动测试系统是自动测试系统今后发展的必然方向。简要介绍了自动测试系统的发展概况,通过对通用自动测试系统特点的分析,提出了"架构层"、"语法层"和"语义层"通用自动测试系统的概念,并讨论了涉及下一代通用自动测试系统的关键技术及应用方向,为通用自动测试系统的研究指明了方向。

主 题 词：通用自动测试系统 架构层 语法层 语义层 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 081104[081104] 0811[工学-水利类] 071102[071102] 081103[081103] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-6236.2011.09.046

馆 藏 号：203426333...